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原位多場耦合樣品桿的使用涉及一系列精細的步驟和操作，以下是其使用的基本流程：一、準備工作樣品準備：根據實驗需求，選擇合適的樣品，并確保其尺寸和形狀與樣品桿兼容。設備檢查：檢查原位多場耦合樣品桿及其附件是否完好無損，確保無松動或損壞的部件。環境準備：確保實驗環境干凈、無塵，以減少對樣品的污染。二、安裝與調試安裝樣品：將準備好的樣品固定在樣品桿上，確保樣品穩定且位置準確。連接設備：將樣品桿連接到電鏡或其他分析設備上，確保連接穩固、無松動。調試與校準：根據設備說明書，對原位多場耦合...

隨著科學技術的發展，各類法醫和犯罪現場證據的微觀分析對偵破案件的重要性日益增強。電鏡作為一種高分辨微觀工具，在法醫和犯罪現場搜證方面有巨大的應用價值。澤攸科技自主研發的ZEM18臺式掃描電鏡，利用其超高的圖像分辨率，可以觀察到肉眼無法識別的細微痕跡，為警方提供詳盡而關鍵的物證，科學地偵破許多看似復雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中，ZEM18臺式掃描電鏡可以通過人體組織內殘留的硅藻種類、數量和狀態判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外，ZEM18掃描電鏡可以檢測現場殘留物，如...

ZEM18作為澤攸科技自主研發的高分辨臺式掃描電子顯微鏡，在半導體領域有著廣泛的應用。典型案例如下:【晶圓缺陷檢測】利用ZEM18電鏡直接成像觀察晶圓表面，可以清晰展現出微小劃痕、顆粒污染等各類缺陷情況。根據圖像結果判斷缺陷源頭，以優化制程，提高生產良率。【光刻工藝檢測】使用ZEM18電鏡可以在微米量級直接刻畫光刻膠層的側壁形貌及斷口形態。幫助評估光刻質量與曝光量效應，優化曝光量設置。【金屬互連觀測】ZEM18高倍成像可以清晰展現芯片互連結構中的空隙缺陷、線邊斷裂情況，有助于...

澤攸科技JS系列高精度臺階儀是一款先進的自主研發的國產臺階儀，采用了先進的掃描探針技術。通過掃描探針在樣品表面上進行微觀測量，臺階儀能夠準確獲取表面形貌信息。其工作原理基于探針與樣品表面的相互作用力，通過測量探針的微小位移，實現對表面高度差異的檢測。其性能特點包括：1.高精度：臺階儀可實現納米級別的測量，能夠揭示微觀結構的細節和特征。2.大行程超精密平面掃描：具備70mm的大行程，優于20nm/2mm，能夠高效地獲取表面形貌數據。3.大帶寬大行程納米微動臺：擁有80um的大行...

近年來，中國科技創新實力逐漸嶄露頭角，而在電子顯微鏡領域，澤攸科技（ZEPTOOLS）的ZEM系列臺式掃描電鏡正促進行業的新風向。自2019年10月16日在全國電子顯微學會年會上展示了國內自主研發的國產臺式掃描電鏡ZEM15以來，該系列掃描電鏡憑借其出色的性能和自主研發的技術特色，逐漸在國內外市場上贏得了廣泛認可和青睞。ZEM15臺式掃描電鏡展會現場ZEM系列臺式掃描電鏡的問世標志著中國在電子顯微鏡領域邁出了重要的一步。作為全球電鏡市場上的新興科技品牌，澤攸科技不僅僅是帶來了...

二維材料轉移臺是一種重要的設備，主要用于二維材料的精確轉移和定位。準備階段：確保二維材料轉移臺放置在穩定的工作臺上，避免振動和干擾。檢查電源和連接線路，確保設備正常供電。根據需要選擇合適的二維材料和目標基底。安裝和固定基底：使用雙面膠帶或真空泵將目標基底固定在襯底固定臺上。確保基底固定牢固，避免在轉移過程中發生移動。對準和定位：通過顯微鏡觀察，找到Si襯底上的電極圖案或已經轉移好的二維材料。將目標位置固定在顯微鏡視野中央，以便進行精確轉移。二維材料的轉移：使用PDMS（聚二甲...

全自動臺階儀的測量精度和重復性是評估其性能的重要指標。通常，測量精度要求全自動臺階儀能夠準確地測量出微小的高度差，而重復性則要求其能夠保證測量結果的穩定性。為了評估全自動臺階儀的測量精度，可以采用已知準確高度的標準樣品進行測試，并比較測量結果與標準樣品的實際高度差。此外，可以通過多次重復測量同一樣品的高度，計算測量結果的平均值和標準差，以評估全自動臺階儀的重復性。在實際應用中，全自動臺階儀的測量精度和重復性受到多種因素的影響，如儀器的設計、制造工藝、操作環境、操作人員技能等。...

半自動臺階儀可以測量材料的表面形貌，包括表面粗糙度、波紋度、臺階高度等參數，用于研究材料的表面特性。可以測量薄膜的厚度，對于半導體、光電子、微電子等領域的研究和生產具有重要意義。可以檢測材料表面的缺陷，如裂紋、劃痕、凹槽等，用于產品質量控制和失效分析。半自動臺階儀在半導體行業中的優勢：1.高精度測量：半自動臺階儀采用測量技術，能夠實現高精度的測量結果，滿足半導體行業對表面形貌和尺寸精度的嚴格要求。2.高效測量：半自動臺階儀采用自動化測量方式，能夠快速、準確地測量半導體表面的臺...